顯微熱成像參數(shù)_Optotherm IS640熱射顯微鏡系統(tǒng)-立特為智能    咨詢電話：15219504346      

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關(guān)鍵詞：  Optotherm IS640 SENTRIS，Thermal Emission Microscope system

1. 它的應(yīng)非常廣泛，去封裝的芯片，未去封裝的芯片，容，F(xiàn)PC,甚小尺寸的路板（PCB、PCBA）,這也就讓你可以在樣品的不同階段都可以使thermal術(shù)進(jìn)，如下圖示例，樣品路板漏定位到某QFN封裝器件漏，將該器件拆下后現(xiàn)漏善，該器件焊引線來(lái)，未封定位為某引腳，封后針再做，進(jìn)一步確認(rèn)為晶圓某引線位置漏導(dǎo)致，如有需要可接著做SEM,FIB等。

未封器件

封器件

2. 它能測(cè)的半導(dǎo)體缺陷也非常廣泛，微安級(jí)漏，低阻抗短路，ES擊傷，閂效應(yīng)點(diǎn)，屬層部短路等等，而容的漏和短路點(diǎn)定位，F(xiàn)PC,PCB,PCBA的漏，微短路等也能夠jq定位

lock-in相

封芯片漏

GAN-SIC器件

3，它是無(wú)損：為日常的失效，往往樣品量稀少，這就要求失效術(shù){zh0}是無(wú)損的，而于某些例如陶瓷容和FPC的缺陷，雖然測(cè)能測(cè)存在缺陷，但是具體缺陷位置，市的無(wú)損如XRAY或超聲波，卻很難進(jìn)定位，只能通過(guò)樣品進(jìn)破壞性切片，且只能隨機(jī)挑選位置，而通過(guò)Thermal 術(shù)，你需要的只是給樣品，就可以述兩種缺陷進(jìn)定位

FPC缺陷

容缺陷

4,相熱成像（LOCK IN THERMOGRAPHY）：相術(shù)，將溫度分辨率高到0.001℃，5um分辨率鏡頭，可以測(cè)uA級(jí)漏流和微短路缺陷，遠(yuǎn)由于傳統(tǒng)熱成像及液晶熱點(diǎn)測(cè)法（0.1℃分辨率，mA級(jí)漏流熱點(diǎn)）

5，系統(tǒng)能夠測(cè)量芯片等微觀器件的溫度分布，了一種速測(cè)熱點(diǎn)和熱梯度的有效手段，熱分布不僅能顯示缺陷的位置，在半導(dǎo)體領(lǐng)域

在集成路操期間，內(nèi)部結(jié)加熱導(dǎo)致接處的熱量集中。器件中的峰值溫度處于接處本身，并且熱從接部向外傳導(dǎo)到封裝中。因此，器件操期間的jq結(jié)溫測(cè)量是熱表征的組成部分。

芯片附著缺陷可能是由于諸如不充分或污染的芯片附著材料，分層或空隙等原因引起的。Sentris熱工具（如 圖像序列）可于評(píng)估樣品由內(nèi)到外的熱量傳遞過(guò)程，以便確定管芯接的完整性。

OPTOTHERM Sentris 熱射顯微鏡系統(tǒng)為一臺(tái)專(zhuān)為缺陷定位的系統(tǒng)，專(zhuān)為子產(chǎn)品FA設(shè)計(jì)，通過(guò)特別的LOCK-IN術(shù)，使LWIR鏡頭，仍能將將溫度分辨率升到0.001℃（1mK），同時(shí)光學(xué)分辨率{zg}達(dá)到5um,尤其其系統(tǒng)經(jīng)過(guò)多年的優(yōu)化，具有非常易和實(shí)，以下是OPTOTHERM Sentris 熱射顯微鏡系統(tǒng)過(guò)程的說(shuō)明視頻

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紅外熱成像儀（熱成像儀或紅外熱成像儀）是通過(guò)非接觸測(cè)紅外能量（熱量），并將其轉(zhuǎn)換為號(hào)，進(jìn)而在顯示器成熱圖像和溫度值，并可以溫度值進(jìn)計(jì)算的一種檢測(cè)設(shè)備。
1.根據(jù)熱像儀分測(cè)原理可以分為光子測(cè)和熱測(cè)兩種
熱成像儀有光子測(cè)和熱測(cè)兩種不同的原理。前者主要是光子在半導(dǎo)體材料產(chǎn)的效應(yīng)進(jìn)成像，敏感度高，但測(cè)器本身的溫度會(huì)其產(chǎn)影響，因而需要降溫。熱測(cè)器是指測(cè)元件吸收入射的紅外輻射能量而引起溫升，在此礎(chǔ)借助各種物理效應(yīng)把溫升轉(zhuǎn)變成量的一種測(cè)器。敏感度不如前者但是無(wú)需冷。
紅外熱像儀助力LED產(chǎn)與展
LED是一種新型的光源，取了傳統(tǒng)的的照明工具，但是其使壽命受散熱效果的影響，根本原因是LED的光轉(zhuǎn)換效率較差，大約只有15%20%左右能轉(zhuǎn)換為光輸，其均轉(zhuǎn)換成為熱能，從而造成散熱處理的問(wèn)題。
紅外熱像儀可進(jìn)LED溫度檢測(cè)，不僅在研過(guò)程中揮，也能應(yīng)在產(chǎn)品的質(zhì)量管理等方面。主要應(yīng)如下：
1.LED模塊驅(qū)動(dòng)路、光源半導(dǎo)體熱分布及光衰測(cè)試等
（1）LED模塊驅(qū)動(dòng)路
在LED產(chǎn)品的研中，需要工程師進(jìn)驅(qū)動(dòng)路設(shè)計(jì)，通過(guò)紅外熱像儀，工程師可速現(xiàn)路溫度異常的地方，有助于完善路設(shè)計(jì)。
（2）LED光源半導(dǎo)體芯片熱
通過(guò)紅外熱像儀，工程師可通過(guò)光源半導(dǎo)體的紅外熱像圖，芯片在工時(shí)的溫度及分布，采取措施高LED產(chǎn)品的壽命。
2.質(zhì)量管理
（1）LED成品顯示屏機(jī)測(cè)試
LED顯示屏完成后，需做{zh1}驗(yàn)收，通過(guò)不同顏色的測(cè)試來(lái)看屏幕是否符交貨的要求，通過(guò)紅外熱像儀，可完善產(chǎn)品檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，高產(chǎn)品質(zhì)量。
（2）LED檢測(cè)芯片封裝前的溫度
LED芯片封裝前溫度進(jìn)檢測(cè)可以避免封裝后的溫度異常，從而降低廢品率。此檢測(cè)過(guò)程不能接觸芯片表面，而紅外熱像儀采非接觸式測(cè)溫，成為{zj0}溫度檢測(cè)工具。
（3）半導(dǎo)體照明：吹燈泡均勻性
通過(guò)紅外熱像儀拍攝玻璃吹泡的過(guò)程，進(jìn)產(chǎn)參數(shù)修正，善掐口工藝，可有效高產(chǎn)品的格率，降低企產(chǎn)成本。
顯微熱成像參數(shù)_Optotherm IS640熱射顯微鏡系統(tǒng)-立特為智能凸顯了加強(qiáng)過(guò)程控的必要性。因?yàn)槭称芳庸み^(guò)程中一般會(huì)涉及到人為因素，食品加工商需要關(guān)鍵的操動(dòng)化工具，這樣有助