熱射顯微鏡系統(tǒng)參數(shù)_Optotherm IS640熱成像顯微鏡-立特為智能    咨詢電話：15219504346      

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關(guān)鍵詞：  Optotherm IS640 SENTRIS，Thermal Emission Microscope system

1. 它的應(yīng)非常廣泛，去封裝的芯片，未去封裝的芯片，容，F(xiàn)PC,甚小尺寸的路板（PCB、PCBA）,這也就讓你可以在樣品的不同階段都可以使thermal術(shù)進(jìn)，如下圖示例，樣品路板漏定位到某QFN封裝器件漏，將該器件拆下后現(xiàn)漏善，該器件焊引線來，未封定位為某引腳，封后針再做，進(jìn)一步確認(rèn)為晶圓某引線位置漏導(dǎo)致，如有需要可接著做SEM,FIB等。

未封器件

封器件

2. 它能測(cè)的半導(dǎo)體缺陷也非常廣泛，微安級(jí)漏，低阻抗短路，ES擊傷，閂效應(yīng)點(diǎn)，屬層部短路等等，而容的漏和短路點(diǎn)定位，F(xiàn)PC,PCB,PCBA的漏，微短路等也能夠jq定位

lock-in相

封芯片漏

GAN-SIC器件

3，它是無損：為日常的失效，往往樣品量稀少，這就要求失效術(shù){zh0}是無損的，而于某些例如陶瓷容和FPC的缺陷，雖然測(cè)能測(cè)存在缺陷，但是具體缺陷位置，市的無損如XRAY或超聲波，卻很難進(jìn)定位，只能通過樣品進(jìn)破壞性切片，且只能隨機(jī)挑選位置，而通過Thermal 術(shù)，你需要的只是給樣品，就可以述兩種缺陷進(jìn)定位

FPC缺陷

容缺陷

4,相熱成像（LOCK IN THERMOGRAPHY）：相術(shù)，將溫度分辨率高到0.001℃，5um分辨率鏡頭，可以測(cè)uA級(jí)漏流和微短路缺陷，遠(yuǎn)由于傳統(tǒng)熱成像及液晶熱點(diǎn)測(cè)法（0.1℃分辨率，mA級(jí)漏流熱點(diǎn)）

5，系統(tǒng)能夠測(cè)量芯片等微觀器件的溫度分布，了一種速測(cè)熱點(diǎn)和熱梯度的有效手段，熱分布不僅能顯示缺陷的位置，在半導(dǎo)體領(lǐng)域

在集成路操期間，內(nèi)部結(jié)加熱導(dǎo)致接處的熱量集中。器件中的峰值溫度處于接處本身，并且熱從接部向外傳導(dǎo)到封裝中。因此，器件操期間的jq結(jié)溫測(cè)量是熱表征的組成部分。

芯片附著缺陷可能是由于諸如不充分或污染的芯片附著材料，分層或空隙等原因引起的。Sentris熱工具（如 圖像序列）可于評(píng)估樣品由內(nèi)到外的熱量傳遞過程，以便確定管芯接的完整性。

OPTOTHERM Sentris 熱射顯微鏡系統(tǒng)為一臺(tái)專為缺陷定位的系統(tǒng)，專為子產(chǎn)品FA設(shè)計(jì)，通過特別的LOCK-IN術(shù)，使LWIR鏡頭，仍能將將溫度分辨率升到0.001℃（1mK），同時(shí)光學(xué)分辨率{zg}達(dá)到5um,尤其其系統(tǒng)經(jīng)過多年的優(yōu)化，具有非常易和實(shí)，以下是OPTOTHERM Sentris 熱射顯微鏡系統(tǒng)過程的說明視頻

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紅外熱成像儀（熱成像儀或紅外熱成像儀）是通過非接觸測(cè)紅外能量（熱量），并將其轉(zhuǎn)換為號(hào)，進(jìn)而在顯示器成熱圖像和溫度值，并可以溫度值進(jìn)計(jì)算的一種檢測(cè)設(shè)備。
1.根據(jù)熱像儀分測(cè)原理可以分為光子測(cè)和熱測(cè)兩種
熱成像儀有光子測(cè)和熱測(cè)兩種不同的原理。前者主要是光子在半導(dǎo)體材料產(chǎn)的效應(yīng)進(jìn)成像，敏感度高，但測(cè)器本身的溫度會(huì)其產(chǎn)影響，因而需要降溫。熱測(cè)器是指測(cè)元件吸收入射的紅外輻射能量而引起溫升，在此礎(chǔ)借助各種物理效應(yīng)把溫升轉(zhuǎn)變成量的一種測(cè)器。敏感度不如前者但是無需冷。
由于熱測(cè)器是輻射引起物體的溫升效應(yīng)，因此，它任何波長(zhǎng)的輻射都有響應(yīng)，所以稱熱測(cè)器為無選擇性測(cè)器，這是它同光子測(cè)器的一大差別。熱測(cè)器的展比光子測(cè)器早，但如今一些光子測(cè)器的測(cè)率已接近背景限，而熱測(cè)器的測(cè)率離背景噪聲限還有很大差距。
2.根據(jù)熱像儀工的波段可以分為長(zhǎng)波、短波、中波紅外熱像儀
還根據(jù)熱成像儀的工波段、所使的感光材料進(jìn)分類。常見熱成像儀工在3到5微或8到12微，一般把8-12微稱為長(zhǎng)波段紅外熱像儀，3-5微稱為短波紅外熱像儀，5-8微是中波紅外熱像儀，這些都各有各的優(yōu)缺點(diǎn)，常感光材料則有硫化鉛、硒化鉛、硫化錮、硫錫鉛、硫鎘、摻雜儲(chǔ)和摻雜硅等。一般來說冷型的紅外熱像儀采的硫錫鉛、硫鎘等，非冷的紅外熱像儀采的是多晶硅，氧化釩等。
3.根據(jù)感光元件數(shù)量和運(yùn)動(dòng)方式，則有機(jī)械掃描、凝視成像型等。
4.根據(jù)是否測(cè)溫紅外熱像儀又分為成像型和測(cè)溫型，一般來說現(xiàn)在市面測(cè)溫型的紅外熱像儀價(jià)格比成像型的價(jià)格高一些。成像型的紅外熱像儀畫面表現(xiàn)為溫度分布，但是并不具備測(cè)溫的功能。
熱射顯微鏡系統(tǒng)參數(shù)_Optotherm IS640熱成像顯微鏡-立特為智能是否會(huì)影響準(zhǔn)確測(cè)量？下雨本身測(cè)量精度影響不大，但被測(cè)物體表面附著的滴可能造成熱量的異常流失，使測(cè)量溫度不能準(zhǔn)確映物體的正常表面溫度。同時(shí)，下雨環(huán)境儀器本，熱射顯微鏡系統(tǒng)參數(shù)_Optotherm IS640熱成像顯微鏡-立特為智能?，F(xiàn)在，假設(shè)整個(gè)躍階的溫度讀數(shù)介于8-12ms。從圖表中可以看，紅外熱像儀讀取的沸溫度在60c附近，存在40c的誤差。熱像儀仍會(huì)jq報(bào)告像素點(diǎn)的溫度。問題是，熱射顯微鏡系統(tǒng)參