紅外熱顯微鏡術(shù)參數(shù)_optotherm紅外顯微鏡成像系統(tǒng)-立特為智能    咨詢電話：15219504346      

紅外熱顯微鏡術(shù)參數(shù)_optotherm紅外顯微鏡成像系統(tǒng)-立特為智能話：15219504346 （溫先）

關(guān)鍵詞：  Optotherm IS640 SENTRIS，Thermal Emission Microscope system

1. 它的應(yīng)非常廣泛，去封裝的芯片，未去封裝的芯片，容，F(xiàn)PC,甚小尺寸的路板（PCB、PCBA）,這也就讓你可以在樣品的不同階段都可以使thermal術(shù)進(jìn)，如下圖示例，樣品路板漏定位到某QFN封裝器件漏，將該器件拆下后現(xiàn)漏善，該器件焊引線來，未封定位為某引腳，封后針再做，進(jìn)一步確認(rèn)為晶圓某引線位置漏導(dǎo)致，如有需要可接著做SEM,FIB等。

未封器件

封器件

2. 它能測的半導(dǎo)體缺陷也非常廣泛，微安級漏，低阻抗短路，ES擊傷，閂效應(yīng)點(diǎn)，屬層部短路等等，而容的漏和短路點(diǎn)定位，F(xiàn)PC,PCB,PCBA的漏，微短路等也能夠jq定位

lock-in相

封芯片漏

GAN-SIC器件

3，它是無損：為日常的失效，往往樣品量稀少，這就要求失效術(shù){zh0}是無損的，而于某些例如陶瓷容和FPC的缺陷，雖然測能測存在缺陷，但是具體缺陷位置，市的無損如XRAY或超聲波，卻很難進(jìn)定位，只能通過樣品進(jìn)破壞性切片，且只能隨機(jī)挑選位置，而通過Thermal 術(shù)，你需要的只是給樣品，就可以述兩種缺陷進(jìn)定位

FPC缺陷

容缺陷

4,相熱成像（LOCK IN THERMOGRAPHY）：相術(shù)，將溫度分辨率高到0.001℃，5um分辨率鏡頭，可以測uA級漏流和微短路缺陷，遠(yuǎn)由于傳統(tǒng)熱成像及液晶熱點(diǎn)測法（0.1℃分辨率，mA級漏流熱點(diǎn)）

5，系統(tǒng)能夠測量芯片等微觀器件的溫度分布，了一種速測熱點(diǎn)和熱梯度的有效手段，熱分布不僅能顯示缺陷的位置，在半導(dǎo)體領(lǐng)域

在集成路操期間，內(nèi)部結(jié)加熱導(dǎo)致接處的熱量集中。器件中的峰值溫度處于接處本身，并且熱從接部向外傳導(dǎo)到封裝中。因此，器件操期間的jq結(jié)溫測量是熱表征的組成部分。

芯片附著缺陷可能是由于諸如不充分或污染的芯片附著材料，分層或空隙等原因引起的。Sentris熱工具（如 圖像序列）可于評估樣品由內(nèi)到外的熱量傳遞過程，以便確定管芯接的完整性。

OPTOTHERM Sentris 熱射顯微鏡系統(tǒng)為一臺專為缺陷定位的系統(tǒng)，專為子產(chǎn)品FA設(shè)計(jì)，通過特別的LOCK-IN術(shù)，使LWIR鏡頭，仍能將將溫度分辨率升到0.001℃（1mK），同時(shí)光學(xué)分辨率{zg}達(dá)到5um,尤其其系統(tǒng)經(jīng)過多年的優(yōu)化，具有非常易和實(shí)，以下是OPTOTHERM Sentris 熱射顯微鏡系統(tǒng)過程的說明視頻

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紅外熱像儀檢測散熱效率
紅外熱像儀是一種采非接觸式測溫的設(shè)備，通過物體表面的熱分布成像和，可迅速準(zhǔn)確地現(xiàn)物體的熱缺陷。在子和半導(dǎo)體的溫度分布、功耗設(shè)計(jì)和研究、散熱效果、PCB布局優(yōu)化、維修檢測等方面，靈活使紅外熱像儀，研人員能顯著高散熱設(shè)計(jì)各個(gè)環(huán)節(jié)的工效率。
紅外熱像儀在使時(shí)有如下特點(diǎn)：
1）非接觸，不擔(dān)心觸風(fēng)險(xiǎn)；
2）“看見”熱，比經(jīng)驗(yàn)和直覺耗時(shí)更少，定位更準(zhǔn)確
3）“看”小物體的熱成為可能
一、速評估熱負(fù)載
紅外熱像儀可產(chǎn)品的溫度分布清晰直觀成像，幫助研人員精準(zhǔn)評估熱分布，定位熱負(fù)荷過大區(qū)域，讓后續(xù)的散熱設(shè)計(jì)更有針性和目的性。
二、散熱方評估驗(yàn)證
設(shè)計(jì)階段會有很多種散熱方，紅外熱像儀可幫助研人員速、直觀地評估不同散熱方效果，從而確定術(shù)方。
三、散熱材料選擇
確定散熱方后，研人員需應(yīng)商的不同規(guī)格的散熱材料進(jìn)測試篩選，達(dá)到散熱指標(biāo)和成本的均衡。比如在手機(jī)等子產(chǎn)品中，通常會使鋁箔貼片、石墨散熱薄膜等柔性導(dǎo)熱材料于散熱，這些材料不同的品、工藝和規(guī)格，散熱效果也會不一樣，紅外熱像儀，研人員可速評估散熱效果，綜慮性能指標(biāo)和成本確定適的材料。由iPhone和小yl的石墨散熱膜有效的解決了高性能的散熱問題，并成為新的研究和投資熱點(diǎn)。
紅外熱顯微鏡術(shù)參數(shù)_optotherm紅外顯微鏡成像系統(tǒng)-立特為智能器溫度升高或者增益值增大時(shí)，動態(tài)壞點(diǎn)會變的更加明顯。4、壞點(diǎn)校正·靜態(tài)壞點(diǎn)校正靜態(tài)壞點(diǎn)的校正是于已有的靜態(tài)壞點(diǎn)表，比較當(dāng)前點(diǎn)的標(biāo)是否與靜態(tài)壞點(diǎn)表中的某個(gè)標(biāo)，紅外熱顯微鏡術(shù)參數(shù)_optotherm紅外顯微鏡成像系統(tǒng)-立特為智能后，研人員需應(yīng)商的不同規(guī)格的散熱材料進(jìn)測試篩選，達(dá)到散熱指標(biāo)和成本的均衡。比如在手機(jī)、導(dǎo)航、智能硬件等子產(chǎn)品中，會使鋁箔貼片、石墨散熱薄膜等柔，紅外熱顯微鏡術(shù)參數(shù)_optotherm紅外顯微鏡成像系統(tǒng)-立特為智能熟知的產(chǎn)品了，但是在國內(nèi)，由于展的時(shí)間比國外較晚，所以很多的人并不是很懂熱像儀的使，這就要求現(xiàn)在的術(shù)人員和工人熱像儀都要有一定的操能力。下面就讓我們，紅外熱顯微鏡術(shù)參數(shù)_optotherm紅外顯微鏡成像系統(tǒng)-立特為智能現(xiàn)的其他設(shè)備的磁輻射影響嗎？紅外熱像