電子束能量分布測(cè)試儀 diaBEM
(Electron Beam Profiler)
本設(shè)備要用于電子束能量分布測(cè)亠試,欣源科技(北京),.欣源科技(北京),電子束焊接質(zhì)量評(píng)估
,欣源科技(北京)有限公司,進(jìn)而可以控制電子束焊接質(zhì)量。
由德aixCCT Systems GmbH公司制造。
軟件:
Windows 7操作系統(tǒng)
通過GPIB或以太網(wǎng)的遠(yuǎn)程接入和腳本控制
通過ODBC接口的數(shù)據(jù)庫連接
測(cè)試數(shù)據(jù)通過SCII式輸出
技術(shù)參數(shù):
測(cè)試孔直徑:20μm
{zd0}可測(cè)電子束能量:30kW
轟擊測(cè)試行程:160mm
電子束橫截面測(cè)試時(shí)間:2.5s
欣源科技SYNERCE{dj2}代理德aixCCT公司的鐵電壓電系列產(chǎn)品及電子束能量密度分布測(cè)試儀diaBEM(Electron Beam Profiler)。
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