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芯片集成電路 x-ray檢測(cè)設(shè)備

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上海安竹光電科技有限公司是一家專業(yè)從事光電技術(shù)、影像、X射線成像裝置、X射線機(jī)、數(shù)字DR、平板探測(cè)器、檢測(cè)設(shè)備的研發(fā)生產(chǎn)和銷售的公司。公司主營(yíng)：手提式X光機(jī)、X射線影像設(shè)備、X光機(jī)影像成像裝置、x射線影像成像系統(tǒng)、工業(yè)產(chǎn)品檢測(cè)儀,影像成像設(shè)備，X射線衍射儀、X射線探傷機(jī)，DR平板探測(cè)器，檢測(cè)設(shè)備、光學(xué)儀器、儀器儀表、電子設(shè)備、機(jī)電設(shè)備、通訊設(shè)備、安防設(shè)備等系列產(chǎn)品，并廣泛產(chǎn)品已被廣泛用于放射、攝影、數(shù)字?jǐn)z影、造影、工業(yè)探傷攝影、無(wú)損檢測(cè)、光學(xué)儀器等的實(shí)時(shí)成像

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x-rasy檢測(cè)設(shè)備主要用于：芯片、集成電路、電子元器件、封裝元器、半導(dǎo)體元器件、

{BGA、CPU、PCBA、IC芯片}、

連接器、電熱絲、電路板、發(fā)熱管、發(fā)熱絲、電子產(chǎn)品內(nèi)部結(jié)構(gòu)是否變形、

脫焊、空焊、裂紋、移位等檢測(cè)；

同時(shí)還可用于:鑄件、壓模鑄件、注塑件、氣孔、氣泡、孔徑等非破壞性無(wú)損檢測(cè)。

2021 芯片檢測(cè)儀005字
001A 芯片檢測(cè)OK

006檢測(cè)效果02

鄭重聲明：產(chǎn)品【芯片集成電路 x-ray檢測(cè)設(shè)備】由上海安竹光電科技有限公司發(fā)布，版權(quán)歸原作者及其所在單位，其原創(chuàng)性以及文中陳述文字和內(nèi)容未經(jīng)(企業(yè)庫(kù)www.nciecn.com)證實(shí)，請(qǐng)讀者僅作參考，并請(qǐng)自行核實(shí)相關(guān)內(nèi)容。若本文有侵犯到您的版權(quán)，請(qǐng)你提供相關(guān)證明及申請(qǐng)并與我們聯(lián)系（qiyeku # qq.com）或【在線投訴】，我們審核后將會(huì)盡快處理。
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