光纖折射率分析儀 相關(guān)信息由 武漢新特光電技術(shù)有限公司提供。如需了解更詳細的 光纖折射率分析儀 的信息,請點擊 http://www.nciecn.com/b2b/sintec18168.html 查看 武漢新特光電技術(shù)有限公司 的詳細聯(lián)系方式。
我們專注于橫向干涉測量法,它是最敏感的光纖測量技術(shù)。因為測量是橫向執(zhí)行(通過光纖的端口),所以它從本質(zhì)上是無損檢測。雖然光纖的高分子涂層或者緩沖區(qū)必須被去除,光纖本身仍然可以繼續(xù)傳輸測量中的光信號,同時如果必要的話那些高分子涂層在光纖測量之后可以被wq恢復。光纖折射率分析儀可以對光纖樣品進行單波長、多波長的1D、2D測量,獲得任何類型光纖的折射率、應力和幾何形狀數(shù)據(jù)。
折射率精度 | ±0.0001 |
空間分辨率 | ~500 nm |
測量波長范圍 | 500 nm-1 μm |
光纖直徑 | 40 μm-400 μm |
光纖材料 | 石英,非石英,塑料 |
測量同心度誤差 | ±200 nm |
測量纖芯非圓度誤差 | ±0.4% |
可測光纖類型 | 單模, 多模, 微結(jié)構(gòu) (PCF), PM, 多芯, 稀土, 包層泵浦, 大模面積, 彎曲損失, 高-Δ, 等. |