漏電起痕試驗(yàn)(電痕化指數(shù)試驗(yàn))是 IEC60112 、 UL 746A 、ASTM D 3638-92等標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的模擬仿真試驗(yàn)項(xiàng)目。
漏電起痕試驗(yàn)(電痕化指數(shù)試驗(yàn))是在固體絕緣材料表面上,在規(guī)定尺寸 ( 2mm × 5mm ) 的鉑電極之間,施加某一電壓并定時 (30s) 定高度(35mm) 滴下規(guī)定液滴體積的導(dǎo)電液體 (0.1%NH 4 CL) ,用以評價固體絕緣材料表面在電場和潮濕或污染介質(zhì)聯(lián)合作用下的耐漏電性能,測定其相比電痕化指數(shù) (CT1) 和耐電痕化指數(shù) (PT1) 。漏電起痕試驗(yàn)儀(電痕化指數(shù)試驗(yàn)儀)儀適用于照明設(shè)備、低壓電器、家用電器、機(jī)床電器、電機(jī)、電動工具、電子儀器、電工儀表、信息技術(shù)設(shè)備的研究、生產(chǎn)和質(zhì)檢部門,也適用于絕緣材料、工程塑料、電氣連接件、輔件行業(yè)
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