在工業(yè)及科研領(lǐng)域,經(jīng)常需要對樣品進行非破壞性的元素分析,同時對分析面積及靈敏度具有苛刻的要求,如RoHS分析,貴金屬檢測等。
MIDEX X射線熒光譜儀是為滿足這些要求研制開發(fā)的。根據(jù)市場要求,公司對儀器進行了擴展而優(yōu)化,使MIDEX 儀器在分析性能和使用靈活性方面獨樹一幟。
MIDEX X射線熒光譜儀是{zx1}推出的第三代專利產(chǎn)品,不僅可對樣品的微小區(qū)域進行快速無損的檢定,還可對超大樣品的表面(面積可達EC標準線路板規(guī)格的2倍, 233x160 mm)進行元素分布分析。