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關鍵詞：  Optotherm IS640 SENTRIS，Thermal Emission Microscope system

1. 它的應非常廣泛，去封裝的芯片，未去封裝的芯片，容，FPC,甚小尺寸的路板（PCB、PCBA）,這也就讓你可以在樣品的不同階段都可以使thermal術進，如下圖示例，樣品路板漏定位到某QFN封裝器件漏，將該器件拆下后現漏善，該器件焊引線來，未封定位為某引腳，封后針再做，進一步確認為晶圓某引線位置漏導致，如有需要可接著做SEM,FIB等。

未封器件

封器件

2. 它能測的半導體缺陷也非常廣泛，微安級漏，低阻抗短路，ES擊傷，閂效應點，屬層部短路等等，而容的漏和短路點定位，FPC,PCB,PCBA的漏，微短路等也能夠jq定位

lock-in相

封芯片漏

GAN-SIC器件

3，它是無損：為日常的失效，往往樣品量稀少，這就要求失效術{zh0}是無損的，而于某些例如陶瓷容和FPC的缺陷，雖然測能測存在缺陷，但是具體缺陷位置，市的無損如XRAY或超聲波，卻很難進定位，只能通過樣品進破壞性切片，且只能隨機挑選位置，而通過Thermal 術，你需要的只是給樣品，就可以述兩種缺陷進定位

FPC缺陷

容缺陷

4,相熱成像（LOCK IN THERMOGRAPHY）：相術，將溫度分辨率高到0.001℃，5um分辨率鏡頭，可以測uA級漏流和微短路缺陷，遠由于傳統(tǒng)熱成像及液晶熱點測法（0.1℃分辨率，mA級漏流熱點）

5，系統(tǒng)能夠測量芯片等微觀器件的溫度分布，了一種速測熱點和熱梯度的有效手段，熱分布不僅能顯示缺陷的位置，在半導體領域

在集成路操期間，內部結加熱導致接處的熱量集中。器件中的峰值溫度處于接處本身，并且熱從接部向外傳導到封裝中。因此，器件操期間的jq結溫測量是熱表征的組成部分。

芯片附著缺陷可能是由于諸如不充分或污染的芯片附著材料，分層或空隙等原因引起的。Sentris熱工具（如 圖像序列）可于評估樣品由內到外的熱量傳遞過程，以便確定管芯接的完整性。

OPTOTHERM Sentris 熱射顯微鏡系統(tǒng)為一臺專為缺陷定位的系統(tǒng)，專為子產品FA設計，通過特別的LOCK-IN術，使LWIR鏡頭，仍能將將溫度分辨率升到0.001℃（1mK），同時光學分辨率{zg}達到5um,尤其其系統(tǒng)經過多年的優(yōu)化，具有非常易和實，以下是OPTOTHERM Sentris 熱射顯微鏡系統(tǒng)過程的說明視頻

LEADERWE (‘Leaderwe intelligent international limited ‘and ‘ShenZhen Leaderwe Intelligent Co.,Ltd‘)為Optotherm公司中國表（獨理），在深圳設立optotherm紅外熱應實驗室，負責該設備的演示和售，如有相關應，可免費評估測試。

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紅外熱像儀檢測散熱效率
紅外熱像儀是一種采非接觸式測溫的設備，通過物體表面的熱分布成像和，可迅速準確地現物體的熱缺陷。在子和半導體的溫度分布、功耗設計和研究、散熱效果、PCB布局優(yōu)化、維修檢測等方面，靈活使紅外熱像儀，研人員能顯著高散熱設計各個環(huán)節(jié)的工效率。
紅外熱像儀在使時有如下特點：
1）非接觸，不擔心觸風險；
2）“看見”熱，比經驗和直覺耗時更少，定位更準確
3）“看”小物體的熱成為可能
一、速評估熱負載
紅外熱像儀可產品的溫度分布清晰直觀成像，幫助研人員精準評估熱分布，定位熱負荷過大區(qū)域，讓后續(xù)的散熱設計更有針性和目的性。
二、散熱方評估驗證
設計階段會有很多種散熱方，紅外熱像儀可幫助研人員速、直觀地評估不同散熱方效果，從而確定術方。
三、散熱材料選擇
確定散熱方后，研人員需應商的不同規(guī)格的散熱材料進測試篩選，達到散熱指標和成本的均衡。比如在手機等子產品中，通常會使鋁箔貼片、石墨散熱薄膜等柔性導熱材料于散熱，這些材料不同的品、工藝和規(guī)格，散熱效果也會不一樣，紅外熱像儀，研人員可速評估散熱效果，綜慮性能指標和成本確定適的材料。由iPhone和小yl的石墨散熱膜有效的解決了高性能的散熱問題，并成為新的研究和投資熱點。
optotherm紅外成像顯微鏡報價-立特為智能越好，這是當然的，但是還是要視況而定，如果被測的物體并不要求像素的話，也就沒必要多買個高像素的。目前民的熱像儀分辨率大多為3檔，gd為640480，中端，optotherm紅外成像顯微鏡報價-立特為智能身也可能造成損壞，故雨天測量可能會現誤差。2、現環(huán)境存在大風，是否會影響準確測量？大風準確測量影響很大，不同溫度誤差的忍受程度不同影響也不同。一般，optotherm紅外成像顯微鏡報價-立特為智能相應。通俗地講紅外熱像儀就是將物體的不可見紅外能量轉變?yōu)榭梢姷臒釄D像。那么在使紅外熱像儀進測溫的過程中，會有那些環(huán)境因素的影響呢？1、現環(huán)境下雨，，optotherm紅外成像顯微鏡報價-立特為智能于一個不透明的物體，射率是射率的數，即射率+射率={bfb}。而于一個透明的物體，其射率+射率+穿透率={bfb}不同的物體，其表面的射率是不一。